共 317311 条记录，覆盖环境监测、食品检验、建材检测等领域 数据来源: 国家认监委
| 领域 | 标准(方法)名称 | 标准编号 | 检测项目 | 产品 | 操作 |
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| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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No.21分断能力和动作特性 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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No.2a"aR"分断能力 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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No.2分断能力 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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No.5"gR"和"gS"分断能力 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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分断能力NO.1 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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分断能力验证 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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动作验证 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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外壳防护等级验证 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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完整试验 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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尺寸 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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截断电流特性验证 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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撞击器的动作 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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机械强度试验 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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温升与耗散功率验证 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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温升和耗散功率 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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温升、耗散功率 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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熔断器的布置与尺寸 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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电阻 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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约定不熔断电流 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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约定熔断电流 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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约定电缆过载保护 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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约定电缆过载试验 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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绝缘性能和隔离适用性验证 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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耐应力腐蚀龟裂 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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耐热性验证 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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耐锈性 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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耐非正常热和火 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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触头不变坏验证 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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过载能力的验证 | ||
| 产品质量检验 | 低压熔断器第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 |
GB/T13539.4-2016
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过载能力验证 |